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3C电子

ST-P系列激光位移传感器在PCB板厚与基板高度检测中的应用

本文介绍ST-P系列激光位移传感器在PCB板厚、基板高度、元件高度及PCBA翘曲等检测中的应用,针对3C电子制造中的高精度测量需求,提供非接触式解决方案,并给出选型建议与注意事项。

ST-P系列激光位移传感器在PCB板厚与基板高度检测中的应用

应用背景

本文介绍ST-P系列激光位移传感器在PCB板厚、基板高度、元件高度及PCBA翘曲等检测中的应用,针对3C电子制造中的高精度测量需求,提供非接触式解决方案,并给出选型建议与注意事项。

客户痛点

    测量方案

    行业背景 在3C电子制造领域,PCB(印刷电路板)作为电子元器件的载体,其板厚、基板高度、元件高度及焊点高度等尺寸参数直接影响后续贴装、焊接及装配质量。随着电子产品向轻薄化、高集成度发展,对PCB及PCBA的尺寸精度要求日益严格。传统接触式测量效率低、易损伤工件,难以满足在线全检需求。因此,非接触式激光位移传感器在PCB检测中得到了广泛应用。 检测需求 PCB板厚检测:测量裸板或覆铜板的厚度,确保符合设计规格。 基板高度检测:检测PCB基板相对于参考平面的高度,用于定位或平整度评估。 元件高度检测:测量贴装后元件(如芯片、电阻、电容)的高度,判断是否超出允许范围。 PCBA翘曲检测:检测焊接后PCB板的翘曲变形量,防止装配干涉。 焊点高度检测:测量焊点高度,评估焊接质量。 测量难点 高反光表面:PCB上的铜箔、焊盘及金属引脚易产生镜面反射,影响激光测量稳定性。 黑色或深色基板:吸收率高,信号弱,需选用合适波长或高灵敏度传感器。 微小尺寸与高精度:元件高度公差常在±10μm以内,要求传感器重复精度达亚微米级。 高速在线检测:产线节拍快,需要传感器具备高采样频率(如10kHz以上)以匹配运动速度。 推荐传感器方案 ST-P系列激光位移传感器采用激光三角法非接触测量,适用于PCB板厚、基板高度、元件高度及翘曲等检测。根据安装距离和精度要求,可选择以下型号: 型号参考距离测量范围重复精度线性误差适用场景 ST-P25:参考距离25mm,测量范围±1mm,重复精度0.05μm,线性误差<±0.6μm ST-P30:参考距离30mm,测量范围±5mm,重复精度0.15μm,线性误差<±3μm ST-P50:参考距离50mm,测量范围±10mm,重复精度0.25μm,线性误差<±4μm ST-P80:参考距离80mm,测量范围±15mm,重复精度0.5μm,线性误差<±6μm ST-P150:参考距离150mm,测量范围±40mm,重复精度1.2μm,线性误差<±16μm ST-P150150 mm±40 mm1.2 μm<±16 μm大尺寸基板、装配间隙检测 传感器最高采样频率可达160 kHz,支持以太网、RS485、模拟量和IO信号输出,可接入PLC、上位机、视觉检测设备等,实现在线尺寸反馈与品质控制。 实施方式 安装方式:传感器垂直安装于被测PCB上方,参考距离根据型号确定。对于板厚检测,可采用对射式或反射式布局;对于高度检测,传感器固定于龙门架或机械臂上。 测量流程:PCB通过传送带或载具移动至传感器下方,触发信号启动测量。传感器实时输出距离值,上位机或PLC根据预设阈值判断是否合格。 信号输出:通过以太网或RS485将测量数据上传至MES系统;模拟量输出可接入PLC模拟量模块,用于闭环控制。 选型关注点 测量范围与精度:根据被测对象的高度变化范围选择合适量程,同时确保重复精度满足公差要求。 表面特性:对于高反光铜箔或黑色基板,建议进行样件测试,必要时选用蓝色激光或特殊处理型号。 采样频率:高速产线需选择高采样频率型号(如ST-P系列最高160 kHz),避免漏检。 环境因素:现场振动、温度变化及灰尘可能影响测量稳定性,需考虑防护等级和安装环境。 应用价值 提升检测效率:非接触测量,每秒数千次采样,实现在线全检。 保证产品质量:高精度测量,及时发现厚度超差、翘曲、元件高度异常等问题。 降低人工成本:自动化检测替代人工抽检,减少误判。 数据可追溯:测量数据可上传至系统,便于质量分析。 注意事项 对于玻璃、金属高反光面、黑色塑胶、FPC软板、胶水和透明材料,需根据表面反光、颜色、透明度、安装角度、光斑尺寸、测量速度和现场节拍进行样件测试验证。 传感器安装时应避免强光直射和振动源。 定期清洁镜头,防止灰尘影响测量精度。 具体型号参数需根据实际应用确认,建议联系厂家获取详细技术方案。

    技术优势

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