Product Center
产品中心
围绕位移、厚度、轮廓、安全防护和自动化检测，提供可扩展的工业传感器产品组合。
Laser Displacement Sensor
激光位移传感器
面向自动化设备和在线检测场景，提供高采样、高稳定性的激光位移测量能力。
推荐产品
激光位移传感器
ST-P系列高精度高频激光位移传感器
ST-P系列激光位移传感器采用激光三角测量原理，适用于高精度非接触位移、厚度、高度差、段差、平面度、跳动和尺寸检测。产品具备高重复精度、高线性精度、最高160 kHz采样速度和长测量距离等特点，支持以太网、RS485及模拟量输出，可直接集成到自动化设备和在线检测系统中，适合对标基恩士LK系列等高精度激光位移测量应用。
激光位移传感器
ST-M系列经济型激光位移传感器
提供高精度激光位移传感器选型方案，适用于高度、厚度、段差、平面度、跳动、振动等非接触测量场景，支持多量程、多精度、多采样频率及工业通讯输出。
光谱共焦位移传感器
C系列光谱共焦位移传感器
C系列光谱共焦位移传感器采用非接触式高精度测量方式，适用于位移、厚度、段差、轮廓和平面度等精密检测场景。产品具有小光斑、高分辨率、稳定性好等特点，可应用于玻璃、晶圆、薄膜、金属镜面、陶瓷、半导体及精密零部件等材料检测，适合自动化设备集成和在线质量监控。
干涉测厚传感器
I系列分光干涉测厚传感器
I系列白光干涉测厚仪采用分光干涉测量原理，通过分析薄膜上下表面反射光形成的干涉信号，实现透明、半透明薄膜及涂层厚度的高精度非接触测量。产品具备纳米级重复精度、最高10 kHz采样速度和宽范围工作距离，适用于PCB保护涂层、PET多层膜、UTG超薄柔性玻璃、晶圆键合层、TSV硅通孔及研磨抛光过程中的厚度检测。
接触式位移传感器
SDM1千分数显一体式位移传感器
SDM1千分数显一体式位移传感器是一款集接触式位移测量、数值显示、RS485通讯和IO输出于一体的高精度测量产品。产品采用LVDT位移测量原理，分辨率可达1 μm，重复精度＜1 μm，适用于位移、厚度、高度、深度、跳动、振动和尺寸检测等工业自动化场景，可替代传统千分表、百分表用于在线检测和设备集成。
接触式位移传感器
SDM万分数显一体接触式位移传感器
SDM万分数显一体接触式位移传感器采用LVDT电感式测量原理，集高精度位移测量、数值显示、RS485通讯和IO公差输出于一体。产品分辨率可达0.1 μm，重复精度＜1 μm，可用于高度、厚度、深度、跳动、振动、平面度和尺寸公差检测等场景，适合自动化设备、精密工装、在线检测系统及传统千分表、电子测头升级应用。
高精度测量
围绕工业检测场景构建可维护的产品资料和应用内链。
稳定高速采样
围绕工业检测场景构建可维护的产品资料和应用内链。
支持定制集成
围绕工业检测场景构建可维护的产品资料和应用内链。
服务多行业现场
围绕工业检测场景构建可维护的产品资料和应用内链。
相关技术文章
需要产品选型或样品测试？
提交应用需求后，后台会生成询盘记录，方便销售和技术团队跟进处理。