Solution Application
行业应用
按行业拆解检测痛点、测量方案和推荐产品，形成可持续扩展的应用内容体系。
半导体
半导体晶圆高度差检测
半导体晶圆高度差检测方案用于稳定获取关键尺寸数据，并为自动化设备提供判定依据。
应用案例
ST-P系列激光位移传感器在晶圆表面高度与平面度检测中的应用
本文介绍ST-P系列激光位移传感器在晶圆表面高度、平面度及翘曲检测中的工程应用，涵盖选型、安装、信号输出及注意事项，为半导体自动化检测提供参考。
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应用案例
ST-P系列激光位移传感器在探针台Z轴高度反馈检测中的应用
本文介绍ST-P系列激光位移传感器在半导体探针台Z轴高度反馈检测中的应用，包括检测对象、痛点、选型建议及安装注意事项，帮助工程师实现高精度非接触式高度测量。
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应用案例
ST-P系列激光位移传感器在半导体治具压合高度检测中的应用
本文介绍ST-P系列激光位移传感器在半导体封装治具压合高度检测中的应用，包括检测原理、选型建议、安装调试要点及常见问题，为半导体自动化检测提供高精度非接触测量方案。
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应用案例
激光位移传感器在锂电池极片厚度在线检测中的应用
本文介绍激光位移传感器在锂电池极片涂布、辊压等工序中的厚度在线检测应用，重点分析ST-P系列高精度激光三角位移传感器的技术优势，并对比单探头、双探头对射及基准面测量三种检测方案，为锂电设备厂和自动化工程师提供选型参考。
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应用案例
ST-P系列激光位移传感器在半导体设备微振动与平台跳动检测中的应用
本文介绍ST-P系列激光位移传感器在半导体设备微振动与平台跳动检测中的应用，涵盖检测对象、现场痛点、安装方式、选型建议及注意事项，为工程师提供专业参考。
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