激光位移传感器
ST-P系列高精度高频激光位移传感器
型号：ST-P系列高精度高频激光位移传感器
ST-P系列激光位移传感器采用激光三角测量原理，适用于高精度非接触位移、厚度、高度差、段差、平面度、跳动和尺寸检测。产品具备高重复精度、高线性精度、最高160 kHz采样速度和长测量距离等特点，支持以太网、RS485及模拟量输出，可直接集成到自动化设备和在线检测系统中，适合对标基恩士LK系列等高精度激光位移测量应用。
立即询盘核心卖点
- • 高精度非接触位移测量
- • 重复精度最高可达0.02 μm
- • 线性精度最高可达±0.02% F.S.
- • 最高160 kHz高速采样
- • 无需外置控制器，集成更简洁
- • 支持以太网、RS485和模拟量输出
- • 正反射和漫反射型号可选
- • 适用于高反光、低反光及复杂表面检测
- • 国产化方案，便于设备集成和售后支持
应用场景
- • 高度差检测
- • 厚度测量
- • 段差检测
- • 平面度检测
- • 跳动检测
- • 振动位移监测
- • 尺寸在线检测
- • PCB板高度检测
- • 手机玻璃和金属件检测
- • 精密零部件轮廓测量
- • 自动化设备闭环控制
- • 对标基恩士LK系列位移测量场景
产品参数
完整参数文字版
ST-P系列激光位移传感器参数表
| 型号 | 参考距离 | 测量范围 | 光斑尺寸 | 重复精度 | 平均重复精度 | 线性误差 | 采样频率 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ST-PD08 | 8 mm | ±0.8 mm | Φ20 μm | 0.03 μm | 0.01 μm | ＜±0.5 μm | Max.160 kHz |
| ST-PD15 | 15 mm | ±1.0 mm | Φ35 μm | 0.05 μm | 0.01 μm | ＜±0.6 μm | Max.160 kHz |
| ST-PD15U | 15 mm | ±1.0 mm | 约35×1000 μm | 0.05 μm | 0.01 μm | ＜±0.6 μm | Max.25 kHz |
| ST-P20 | 20 mm | ±3 mm | Φ30 μm | 0.1 μm | 0.01 μm | ＜±1.2 μm | Max.160 kHz |
| ST-P20W | 20 mm | ±3 mm | 约30×150 μm | 0.1 μm | 0.01 μm | ＜±1.2 μm | Max.160 kHz |
| ST-P20U | 20 mm | ±3 mm | 约30×700 μm | 0.05 μm | 0.01 μm | ＜±1.2 μm | Max.25 kHz |
| ST-P25 | 25 mm | ±1 mm | Φ18 μm | 0.05 μm | 0.01 μm | ＜±0.6 μm | Max.160 kHz |
| ST-P30 | 30 mm | ±5 mm | Φ35 μm | 0.15 μm | 0.02 μm | ＜±3 μm | Max.160 kHz |
| ST-P30W | 30 mm | ±5 mm | 约35×400 μm | 0.15 μm | 0.02 μm | ＜±2 μm | Max.160 kHz |
| ST-P30U | 30 mm | ±5 mm | 约35×1100 μm | 0.075 μm | 0.02 μm | ＜±2 μm | Max.25 kHz |
| ST-PM30U | 23.9 mm | ±4.5 mm | 约35×1100 μm | 0.075 μm | 0.02 μm | ＜±2 μm | Max.25 kHz |
| ST-P50 | 50 mm | ±10 mm | Φ45 μm | 0.25 μm | / | ＜±4 μm | Max.160 kHz |
| ST-P50W | 50 mm | ±10 mm | 约45×390 μm | 0.25 μm | / | ＜±4 μm | Max.160 kHz |
| ST-P50U | 50 mm | ±10 mm | 约45×1600 μm | 0.15 μm | / | ＜±4 μm | Max.25 kHz |
| ST-P70 | 70 mm | -50 mm / +40 mm | Φ70 μm | 1.3 μm | 0.3 μm | ＜±18 μm | Max.160 kHz |
| ST-P70W | 70 mm | -50 mm / +40 mm | 约70×500 μm | 1.3 μm | 0.3 μm | ＜±18 μm | Max.160 kHz |
| ST-P80 | 80 mm | ±15 mm | Φ70 μm | 0.5 μm | 0.1 μm | ＜±6 μm | Max.160 kHz |
| ST-P80W | 80 mm | ±15 mm | 约70×800 μm | 0.5 μm | 0.1 μm | ＜±6 μm | Max.160 kHz |
| ST-P80U | 80 mm | ±15 mm | 约70×2200 μm | 0.25 μm | 0.1 μm | ＜±6 μm | Max.25 kHz |
| ST-PM80U | 75.4 mm | ±15 mm | 约70×2200 μm | 0.25 μm | 0.1 μm | ＜±6 μm | Max.25 kHz |
| ST-P150 | 150 mm | ±40 mm | Φ110 μm | 1.2 μm | 0.25 μm | ＜±16 μm | Max.160 kHz |
| ST-P150W | 150 mm | ±40 mm | 约110×1400 μm | 1.2 μm | 0.25 μm | ＜±16 μm | Max.160 kHz |
| ST-P400 | 400 mm | ±100 mm | Φ300 μm | 3 μm | 1.5 μm | ＜±60 μm | Max.160 kHz |
| ST-P400W | 400 mm | ±100 mm | 约300×3400 μm | 3 μm | 1.5 μm | ＜±60 μm | Max.160 kHz |
| ST-P450 | 450 mm | ±250 mm | Φ320 μm | 8 μm | 2 μm | ＜±250 μm | Max.160 kHz |
| ST-P450W | 450 mm | ±250 mm | 约320×4200 μm | 8 μm | 2 μm | ＜±250 μm | Max.160 kHz |
| ST-P1000 | 1000 mm | ±500 mm | Φ320 μm | 12 μm | / | ＜±500 μm | Max.160 kHz |
| ST-P1000H | 1000 mm | ±500 mm | Φ320 μm | 12 μm | / | ＜±500 μm | Max.160 kHz |
| ST-P1500H | 1500 mm | ±1000 mm | Φ400 μm | 30 μm | / | ＜±1000 μm | Max.160 kHz |
| ST-P2250H | 2250 mm | ±650 mm | Φ700 μm | 50 μm | / | ＜±650 μm | Max.160 kHz |
通用规格
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 温度特征 | 0.01% of F.S./℃ |
| 工业接口 | 以太网、RS485串口、模拟信号输出 |
| 模拟输出 | 0-5V / 0-10V / ±5V / ±10V / 4-20mA |
| 测控软件 | 配套 TSLaserStudio 测控软件，支持 C++、C# 软件开发包 |
| 工作模式 | 独立工作，无需控制器；探头可配置为主机或从机，支持同步测厚、交替曝光抗干扰等功能 |
| 电源电压 | DC 9-36V，最大允许±10%波动 |
| 功耗 | 约2.5W |
| 防护等级 | IP67，符合 IEC60529 |
| 环境温度 | 0 至 +50℃ |
光斑说明
| 光斑类型 | 说明 |
|---|---|
| 小光斑 | 适合微小目标、窄边、细小结构和高精度轮廓测量 |
| 宽光斑 W | 适合表面不平整、粗糙面、反光变化较大的目标，可获得更稳定的测量值 |
| 超宽光斑 U | 适合表面粗糙度较大、反光不均匀或需要平均化测量的物体 |
选型表
完整选型文字版
ST-P系列激光位移传感器选型表
| 选型方向 | 推荐型号 | 参考距离 | 测量范围 | 适合场景 |
|---|---|---|---|---|
| 超小距离高精度测量 | ST-PD08 | 8 mm | ±0.8 mm | 微小位移、精密段差、小零件高度检测 |
| 短距离高精度测量 | ST-PD15 / ST-P20 / ST-P25 | 15-25 mm | ±1 mm 至 ±3 mm | 电子元件、PCB、精密结构件高度与段差检测 |
| 常规高精度测量 | ST-P30 / ST-P50 | 30-50 mm | ±5 mm 至 ±10 mm | 自动化设备中常见高度、厚度、平面度、尺寸检测 |
| 粗糙面或反光不均目标 | ST-P30W / ST-P50W / ST-P80W | 30-80 mm | ±5 mm 至 ±15 mm | 金属表面、粗糙面、反光变化较大的工件测量 |
| 超宽光斑稳定测量 | ST-P30U / ST-P50U / ST-P80U | 30-80 mm | ±5 mm 至 ±15 mm | 表面起伏、纹理明显、反光不均匀材料的稳定检测 |
| 中距离在线检测 | ST-P70 / ST-P80 / ST-P150 | 70-150 mm | ±15 mm 至 ±40 mm | 产线高度检测、跳动检测、厚度测量和设备闭环控制 |
| 大量程远距离测量 | ST-P400 / ST-P450 | 400-450 mm | ±100 mm 至 ±250 mm | 大尺寸工件、远距离安装、机器人或产线空间受限场景 |
| 超远距离测量 | ST-P1000 / ST-P1000H / ST-P1500H / ST-P2250H | 1000-2250 mm | ±500 mm 至 ±1000 mm | 大型工件、长距离位移监测、宽距离在线检测 |
| 高速采样应用 | ST-P系列 Max.160 kHz型号 | 按量程选择 | 按型号选择 | 振动、跳动、快速位移变化、在线高速检测 |
| 对标基恩士LK系列应用 | ST-P30 / ST-P50 / ST-P80 / ST-P150 | 30-150 mm | ±5 mm 至 ±40 mm | 高精度非接触位移测量、尺寸检测、段差检测、厚度检测 |
选型建议
ST-P系列可根据参考距离、测量范围、光斑类型和采样频率进行选型。小光斑型号适合微小目标、窄边和精密轮廓测量；W宽光斑型号更适合粗糙面、金属面或反光不均匀目标；U超宽光斑型号适合表面起伏较大、纹理明显或需要稳定平均测量的场景。若客户原本使用基恩士LK系列，可优先根据量程、精度、光斑尺寸、输出方式和安装距离匹配ST-P30、ST-P50、ST-P80、ST-P150等常用型号。