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ST-P系列高精度高频激光位移传感器

激光位移传感器

ST-P系列高精度高频激光位移传感器

ST-P系列高精度高频激光位移传感器

ST-P系列激光位移传感器采用激光三角测量原理,适用于高精度非接触位移、厚度、高度差、段差、平面度、跳动和尺寸检测。产品具备高重复精度、高线性精度、最高160 kHz采样速度和长测量距离等特点,支持以太网、RS485及模拟量输出,可直接集成到自动化设备和在线检测系统中,适合对标基恩士LK系列等高精度激光位移测量应用。

ST-M系列经济型激光位移传感器

激光位移传感器

ST-M系列经济型激光位移传感器

ST-M系列经济型激光位移传感器

提供高精度激光位移传感器选型方案,适用于高度、厚度、段差、平面度、跳动、振动等非接触测量场景,支持多量程、多精度、多采样频率及工业通讯输出。

C系列光谱共焦位移传感器

光谱共焦位移传感器

C系列光谱共焦位移传感器

C系列光谱共焦位移传感器

C系列光谱共焦位移传感器采用非接触式高精度测量方式,适用于位移、厚度、段差、轮廓和平面度等精密检测场景。产品具有小光斑、高分辨率、稳定性好等特点,可应用于玻璃、晶圆、薄膜、金属镜面、陶瓷、半导体及精密零部件等材料检测,适合自动化设备集成和在线质量监控。

I系列分光干涉测厚传感器

干涉测厚传感器

I系列分光干涉测厚传感器

I系列白光干涉测厚仪

I系列白光干涉测厚仪采用分光干涉测量原理,通过分析薄膜上下表面反射光形成的干涉信号,实现透明、半透明薄膜及涂层厚度的高精度非接触测量。产品具备纳米级重复精度、最高10 kHz采样速度和宽范围工作距离,适用于PCB保护涂层、PET多层膜、UTG超薄柔性玻璃、晶圆键合层、TSV硅通孔及研磨抛光过程中的厚度检测。

SDM1千分数显一体式位移传感器

接触式位移传感器

SDM1千分数显一体式位移传感器

SDM1千分数显一体接触式位移传感器

SDM1千分数显一体式位移传感器是一款集接触式位移测量、数值显示、RS485通讯和IO输出于一体的高精度测量产品。产品采用LVDT位移测量原理,分辨率可达1 μm,重复精度<1 μm,适用于位移、厚度、高度、深度、跳动、振动和尺寸检测等工业自动化场景,可替代传统千分表、百分表用于在线检测和设备集成。

SDM万分数显一体接触式位移传感器

接触式位移传感器

SDM万分数显一体接触式位移传感器

SDM万分数显一体接触式位移传感器

SDM万分数显一体接触式位移传感器采用LVDT电感式测量原理,集高精度位移测量、数值显示、RS485通讯和IO公差输出于一体。产品分辨率可达0.1 μm,重复精度<1 μm,可用于高度、厚度、深度、跳动、振动、平面度和尺寸公差检测等场景,适合自动化设备、精密工装、在线检测系统及传统千分表、电子测头升级应用。

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精密测量能力,服务自动化检测现场

围绕位移、厚度、轮廓和安全检测场景,构建从传感器、控制器到应用方案的完整交付能力。

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面向工业现场的稳定测量、快速集成和持续服务。

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2024-04-23

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2024-04-21

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2024-04-19

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2024-04-09

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